Измерительное оборудование
Измерительное оборудование

Мы специализируемся на поставках метрологического и контрольно измерительного оборудования ведущих мировых производителей. Постоянно расширяем линейку предлагаемого оборудования, стараясь максимально удовлетворить требования своих клиентов.

Зондовые станции компании Cascade Microtech
Зондовые станции
компании Cascade Microtech

ЗАО "СКАН" - официальный дистрибьютор компании Cascade Microtech на территории РФ и стран СНГ.
Cascade Microtech теперь компания FormFactor— в результате приобретения компанией FormFactor.

Изображение недоступно
Изображение недоступно
previous arrow
next arrow

Комплексные решения для характеризации полупроводниковых устройств на пластине.

Универсальный программно-аппаратный комплекс позволяет производить измерения на пластине по постоянному току, в ВЧ и СВЧ диапазонах и, в конечном итоге, получить полную модель электронного устройства. Комплекс также используется для верификации проектов на промежуточных этапах разработки.
Расширение возможностей комплекса:

  • Увеличение частотного диапазона с помощью блоков расширения для PNA-X и соответствующих RF-пробников до 500 ГГц;
  • Включение дополнительных опций в PNA-X для импульсных измерений, измерений X-параметров, компрессии усиления, интермодуляционных и гармонических искажений;
  • Маршрутизация сигналов на задней панели PNA-X с помощью механических переключателей добавляет возможность подключения оборудования преобразования сигнала, например: фильтры, усилители и дополнительные приборы для расширения набора измерений;
  • Тестирование готовых систем на пластине с помощью проб-карт.

Задачи комплекса характеризации:

  • Характеризация полупроводниковых приборов по постоянному току, измерение вольт-амперных (ВАХ) и вольт-фарадных (ВФХ) характеристик, мониторинг технологических параметров
  • Характеризация полупроводниковых приборов в ВЧ и СВЧ диапазоне, измерение S-параметров, коэффициента усиления, коэффициента шума, согласования по входу и выходу
  • Экстракция параметров для создания модели полупроводникового прибора, контроля за технологическим процессом, создание библиотеки моделей для выбранного технологического процесса