Последние новости:

• 12 марта 2018 г.

Компания FormFactor, ведущий в отрасли поставщик решений в полупроводниковой промышленности для измерений, представила зондовую станцию нового поколения SUMMIT200.

• 06 марта 2018 г.

Приглашаем Вас принять участие в семинаре «Решения ведущих мировых производителей для измерений на пластинах», который пройдет в Москве, 28 марта 2018 г.

• 8 февраля 2018 г.

FormFactor расширяет возможности проб-карты SmartMatrix™ для одностороннего параллельного контакта 1500 точек при скоростях теста на частоте 200 МГц.

• 24 мая 2017 г.

Imec и Cascade Microtech разрабатывают первую автоматическую систему зондов для продвинутых 3D-чипов.

• 19 сентября 2017 г.

FormFactor расширяет возможности проб-карты SmartMatrix™ для одностороннего параллельного контакта 1500 точек при скоростях теста на частоте 200 МГц.

Зондовые измерения на полупроводниковых пластинах

• 150 мм ручные зондовые станции

Готовые комплекты на базе семейства MPS, с держателем 150 мм для приложений DC / RF / mmW / FA / Power Device

• 200 мм ручные зондовые станции

PM8 - эталон зондовой станции, предназначенной для производственного тестирования на промежуточных этапах и анализа отказов

• Полуавтоматические зондовые станции

Легендарное семейство зондовых станций Summit с держателем 200 мм / Серия зондовых станций BlueRay

• Специализированные зондовые системы

Зондовые станции с автоматической загрузкой пластин, криогенные измерения и измерения в вакууме

• СВЧ пробники и проб-карты

Infinity Probe, ACP Probe, промышленные и лабораторные проб-карты

Мы предлагаем:

• Конфигурация, поставка и поддержка комплексов для измерений на пластинах

начиная с этапа выбора конфигурации, подготовки ТЗ, заканчивая вводом в эксплуатацию и обеспечением технической поддержки

• Обучение работе с зондовыми системами

Различные курсы по работе с зондовыми станциями и методикам проведения измерений

• Поверка измерительного оборудования

Первичная поверка приобретаемого в нашей компании измерительного оборудования

• Законченные решения для измерений

1/f Device Characterization, Circuit Characterization, Cryogenic / Magnetic Probing, S-Parameter & DC Parametric, Terahertz Probing