    Зондовые станции компании Cascade Microtech ЗАО "СКАН" - официальный дистрибьютор компании Cascade Microtech на территории РФ и стран СНГ.   Полуавтоматические зондовые измерительные системы серии Summit позволяют эффективно использовать весь спектр современных измерительных инструментов для тестирования пластин до 200мм. Ручные зондовые станции компании Cascade Microtech Ручные 150мм зондовые станции Cascade Microtech оптимальны по цене и, в тоже время позволяют выполнять точные и достоверные измерения на пластинах диаметром до 150мм, отдельных чипах и печатных платах. Основой семейства является универсальная зондовая система MPS150 Пробники компании Cascade Microtech Cascade Microtech предлагает более чем 50 моделей различных аналитических пробников для характеризации пластин, модулей и печатных плат. Для радиочастотного диапазона доступны семейства пробников: Infinity, Air Coplanar (ACP) и |Z| Probe, позволяющие производить измерения на частотах до 325 ГГц. Для DC доступны пробники семейства DCP и PE5 для анализа отказов  
Материалы
СМОТРЕТЬ ВСЕ
|
|
Elite 300 устанавливает новый стандарт в тестировании 300 мм пластин. На этой станции доступны измерения изделий с технологическим процессом 45 нм и ниже. С помощью Elite 300 успешно решаются современные измерительные проблемы, возникающие при постоянно растущей сложности электронных изделий, уменьшении размеров контактных площадок и величины измеряемых напряжений. Имея самые низкие в отрасли собственные шумы, эта система обеспечивает измерение сверхмалых токов и емкостей при высочайшей механической точности.
Конструкция полуавтоматической PA300, основанная на выверенных инженерных решениях, обеспечивает стабильную и точную среду, необходимую при решении современных сложных измерительных задач: анализ отказов, характеризация и моделирование изделий, исследование процессов в диапазонах до 325ГГц. Вам гарантированы точные результаты при инженерном тестировании LED-электроники, MEMS- и RF-изделий. Операционная среда ProberBench™ позволяет управлять зондовой станцией как при помощи специальных манипуляторов и выносных пультов, так и через компьютер, используя специальную программную оболочку с дружественным и интуитивно понятным интерфейсом. Системы PA300 могут быть сконфигурированы для различного рода сложных измерительных задач с помощью широкого спектра доступных аксессуаров.
PA300PS 3D – первая зондовая станция для тестирования сложных пространственных (3D) структур. PA300PS 3D объединяет в себе технологии MicroAlign™, Automated Thermal Management (ATM™), ReAlign™ и ProbeShield®. Это позволяет проводить не повреждающее контактные площадки тестирование в широком температурном диапазоне, измерять сигналы малого уровня в экранированной среде используя многопиновые проб-карты. Улучшенный блок z-theta-позиционирования обеспечивает микрометрическое разрешение и минимальный дрейф при высочайшей термической и механической стабильности. Термический держатель пластин имеет высокую планарность, функцию регулируемой нивелировки и прекрасную температурную отдачу. Уникальные камера ContactView™ и микроскоп iVista™ обеспечивают визуализацию процессов по всем трём измерениям.
Высокопроизводительная масштабируемая зондовая система CM300 позволяет производить тестирование как малых фрагментов (10 х 10 мм), так 200/300 мм пластин в полностью изолированной среде при температурном воздействии от -60°C до +200°C. Точность механизмов перемещения делает возможным зондирование близко расположенных контактных площадок размером 30 х30 мкм. С помощью модуля автоматической загрузки (MHU300) CM300 последовательно модернизируется в «полевых» условиях из полуавтоматической в полностью автоматическую и, далее, в автоматизированный кластерный комплекс (MHU300 + 2х CM300) . Емкость MHU300 –до 50 (2х25) пластин 200/300 мм, при этом возможна «горячая» замена кассет с образцами. Управляет системой программная оболочка VeloxPro™, единая среда осуществляющая навигацию, Z-профилирование, загрузку пластин и температурный контроль, причем возможно независимое изменение температуры в диапазоне от -40°C до +200°C для частей кластера.