Уважаемые господа!
Группа компаний «СКАН» - официальный дистрибьютор компании Cascade Microtech (FormFactor), Keysight Technologies и компании Super Solutions & Services (3-S), приглашает Вас принять участие в однодневном бесплатном семинаре для разработчиков и производителей интегральных схем «Современные решения для тестирования и характеризации полупроводниковых структур».
Семинар пройдет в Москве 28 марта 2018 года в отеле Будапешт по адресу ул. Петровские линии, д. 2 с 10 до 14 часов.
На семинаре выступят специалисты компании СКАН и инженеры российского представительства Keysight Technologies.
Цель семинара: знакомство гостей с обновленной линейкой зондовых станций компании Cascade Microtech и с решениями для характеризации на пластине от компании Keysight Technologies.
На семинаре будет представлена ручная зондовая станция 3-S SPS6, векторный анализатор цепей Keysight PNA-X и параметрический анализатор (характериограф) Keysight B1500A/B1506A.
Для участия, пожалуйста, отправьте на электронную почту cascade@scanru.ru следующую информацию: ФИО, название компании, должность, телефон, e-mail и ожидайте подтверждения регистрации.
Задать вопросы о семинаре можно по телефонам:
+7 (495) 739-50-05 доб. 124
+7 (916) 530-93-83
или по электронной почте cascade@scanru.ru
Программа семинара:
|
Время
|
Тема доклада
|
Докладчик
|
Компания
|
|
09:30 - 10:00
|
Регистрация участников, приветственный кофе-брейк
|
|
|
|
10:00 – 10:10
|
Вступительное слово и представление участников
|
Сергей Курдюков
|
ЗАО «СКАН»
|
|
10:10 – 10:20
|
Вступительное слово от представительства компании Keysight Technologies в России
|
Павел Логинов
Михаил Бежко
|
Keysight Technologies
|
|
10:20 - 10:30
|
Компания Cascade Microtech в составе корпорации FormFactor
|
Сергей Курдюков
|
ЗАО «СКАН»
|
|
10:30 – 10:50
|
Обзор готовых решений FormFactor на базе ручных зондовых станций семейства MPS
|
Вячеслав Чачин
|
ЗАО «СКАН»
|
|
10:50 – 11:00
|
Особенности параметрических измерений с помощью зондовых станций
|
Павел Логинов
|
Keysight Technologies
|
|
11:00 – 11:20
|
Обзор решений для тестирования полупроводниковых приборов с помощью оборудования компании Keysight Technologies
|
Павел Логинов
|
Keysight Technologies
|
|
11:20 - 11:40
|
Кофе-брейк
|
|
|
|
11:40 – 12:00
|
Обзор полуавтоматических зондовых станций FormFactor семейства Summit. Презентация решения High Speed (HS)
|
Вячеслав Чачин
|
ЗАО «СКАН»
|
|
12:00 - 12:30
|
Измерения пассивных и активных устройств на пластине в диапазоне частот до 130 ГГц
|
Михаил Бежко
|
Keysight Technologies
|
|
12:30 – 12:50
|
Экстракция и моделирование полупроводниковых приборов с помощью САПР IC CAP компании Keysight Technologies
|
Скоков Петр
|
ЗАО «СКАН»
|
|
12:50 - 13:10
|
Обзор программного обеспечения Velox для полуавтоматических зондовых станций FormFactor, основные отличия от Nucleus
|
Вячеслав Чачин
|
ЗАО «СКАН»
|
|
13:10 – 13:30
|
Обзор решений компании Super Solution & Services (3-S), Тайвань
|
Дмитрий Явич
|
ЗАО «Компания СКАН»
|
|
13:30 – 14:00
|
Вопросы и ответы. Дискуссия.
|
|
|
